Máy đo độ dày lớp phủ ElektroPhysik MiniTest 650EF
Đo trên nền kim loại từ tính, mọi chức năng tự động hoàn toàn.
Thang đo: 0 – 3mm
Thang đo hệ inch: 120 mils.
Khoảng đo tương đối hệ mét: ±(5μm + 5% của giá trị đọc).
Khoảng đo tương đối hệ inch: ±(0.12 mils + 5% của giá trị đọc).
Độ phân giải tầm đo thấp: 5μm/0.02 mils.
Bán kính cong lồi F: > 10mm.
Bán kính cong lõm F: >50 mm.
Điểm đo cần có bán kính: >50mm.
Độ dày nền kim loại từ tính tối thiểu F: 0.7mm
Đơn vị đo lường: μm, mm hoặc mils, inch.
Hiệu chuẩn: Hiệu chuẩn của nhà máy, ZERO set point.
Xuất xứ: Elektrophysik Germany.